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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Caratterizzazione XPS/XAES di film sottili di V2O5 modificati mediante intercalazione elettrochimica con ioni Li+
2003-01-01 Salvi, Anna Maria; M. R., Guascito; DE BONIS, Angela; F., Decker; M., Liberatore
Characterization of Nitrogen-containing functional groups on the surface of Carbon Fibres after Corona Discharge Treatments at ambient temperature and pressure
1994-01-01 E., Desimoni; Salvi, Anna Maria; J. F., Watts
Determinazione del fosforo totale nella bile umana mediante metodi spettrofotometrici
1981-01-01 M., Tomassetti; L., Campanella; Salvi, Anna Maria; G., D'Ascenzo; R., Curini
Effect of UV-C irradiance on photochemical degradation of hydro-thermal treated turkey oak wood using FT-IR and XPS technique
2013-01-01 D'Auria, Maurizio; Todaro, Luigi; F., Langerame; Scopa, Antonio; Salvi, Anna Maria
Electrochromic LixV2O5 thin film: in-depth and surface distribution of the Li-intercalation reaction products
2006-01-01 Franco, Decker; Frederique, Donsanti; Salvi, Anna Maria; Rossana, Grilli; Neluta, Ibris; Frantz, Martin; J. E., Castle
Estimating the intrinsic component of the 'Shirley' Background in XP- spectra
1996-01-01 Salvi, Anna Maria; J. E., Castle
Fotodegradazione di inquinanti organici catalizzata da polimeri semiconduttori
1987-01-01 L., Campanella; C., Morgia; Salvi, Anna Maria
Impiego di polimeri semiconduttori per la preparazione di nuovi sensori a membrana
1985-01-01 L., Campanella; A., Furlani Donda; C., Napolitano; M. V., Russo; Salvi, Anna Maria
Impiego di un nuovo metodo di elaborazione dati XPS: esempi di curve-fitting relativi alla caratterizzazione superficiale di campioni di interesse tecnologico
1999-01-01 Salvi, Anna Maria; J. E., Castle; M. R., Guascito; H., Chapman kpodo; A., Proctor
Influence of Li intercalation on thin films of V2O5 deposited by atomic layer deposition (ALD) : XPS, UPS and electrochemical studies
2005-01-01 Frédérique, Donsanti; Franco, Decker; Salvi, Anna Maria; Neluta, Ibris; Andreas, Thissen; Wolfram, Jaegermann
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- 4. Contributo in atti di Convegno 48
- 4. Contributo in atti di Convegno... 48
Data di pubblicazione
- 2010 - 2016 6
- 2000 - 2009 11
- 1990 - 1999 20
- 1981 - 1989 11
Editore
- PROF. TUNDO 1
- Universosud 1
Keyword
- Cultural Heritage 1
- Sustainable Architecture and Mate... 1
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